Sunfilm ist der erste Kunde von Applied Materials, der Dünnschicht-Silizium-Solarmodule in Tandem Junc- tion-Technologie verwendet. Damit wird ein größerer Teil des Solar-Spektrums nutzbar, wodurch sich höhere Modul-Wirkungsgrade ergeben. Neben einer Glasinspektionsanlage verwendet Sunfilm Baslers Inspektionsgeräte, um beste Qualität sowohl bei der Halbleiterbeschichtung auf den Dünnschicht-Modulen als auch beim Endprodukt sicherzustellen. Alle drei Basler Sensic-Inspektionssysteme sind Inline-Systeme und wurden in kürzester Zeit installiert, so dass die Serienproduktion nicht unterbrochen wurde.

Baslers Lösungen zur Glasinspektion sind verfügbar für die Wareneingangskontrolle und zur Überwachung von Säuberungsabläufen während der Produktion. Die Inspektion ist zur Erkennung und Klassifizierung von Fehlern auf der Oberfläche konstruiert. Besonderes Augenmerk liegt auf der Erkennung von Fehlern an Kanten.

Die Inspektionsanlage für CVD-Beschichtungen kontrolliert die Qualität von Halbleiterbeschichtungen auf Dünnschicht-Modulen. Sie kann nicht nur die Anzahl, sondern auch die Verteilung von Effizienz vermindernden Löchern in der Beschichtung ermitteln. Störungen während des Beschichtungsprozesses werden so früh wie möglich detektiert, um so die Basis für weitere Optimierungen während der Produktion zu legen. Teil der Sensic-Dünnschicht-Familie ist zudem die Final Inspection für die Kontrolle nach dem Laminierungsprozess. Damit wird im Randbereich und im photoaktiven Bereich auf Lufteinschlüsse, Kratzer und Delaminationen getestet. Darüber hinaus werden das Vorhandensein und die Lage der Busbars überprüft. Lufteinschlüsse in der Laminierung am Rande von Solarmodulen begünstigen das Eindringen von Feuchtigkeit.

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