Von der Idee bis zur Serienreife entwickelt und produziert TQ elektronische Baugruppen und Geräte nach kundenspezifischen Anforderungen. Das Spektrum reicht dabei von Anwendungen in der Industrieelektronik, Automatisierungs- und Messtechnik über Medizin-, Verkehrs- und Transporttechnik bis zur Luftfahrtindustrie. Viele Kunden erwarten von TQ nicht nur Flexibilität und hohe Qualitätsstandards in der Produktion, sondern auch eine detaillierte Rückverfolgbarkeit jeder einzelnen Elektronikkomponente. Der Hersteller muss Material-, Prozess- oder Design-Fehler schnell identifizieren können, um eventuelle Folgeschäden so gering wie möglich zu halten.

Vor diesem Hintergrund hat sich der Elektronik-Dienstleister für die Erweiterung seines Traceability-Systems entschieden, auch um spezielle Anforderungen bei der Produktion von Avionik-Baugruppen zu erfüllen. Die Lösung basiert auf dem bereits seit Jahren unternehmensweit eingesetzten Manufacturing Execution System Intrafactory von Kratzer und ermöglicht eine durchgängige Rückverfolgbarkeit auf unterschiedlichen Ebenen des Produktionsprozesses.

Die Software erfasst die erforderlichen Informationen wie Komponentendaten, Rüstdaten und Prüfdaten dezentral über maschinennahe Prozess-Schnittstellen sowie durch mobile und stationäre Eingabegeräte und archiviert sie elektronisch in Seriennummer-basierten Lebenslaufakten. Auf diese Weise lassen sich beispielsweise beim Auftreten einer fehlerhaften Materialcharge sehr schnell die betroffenen Baugruppen ermitteln – mögliche Rückrufaktionen können damit ganz genau eingegrenzt werden.

„Wir verfolgen bei TQ einen ganzheitlichen Traceability-Ansatz" , sagt Rüdiger Stahl, TQ-Geschäftsführer. „Mit Intrafactory sind wir in der Lage, die gesetzlichen sowie die oft noch viel strengeren unternehmensinternen Vorgaben der Luftfahrt zu erfüllen." Die Traceability-Lösung von TQ wurde unter anderem nach den europäischen Qualitätsmanagement-Standards für Luft- und Raumfahrt (DIN EN 9100) auditiert.

Kratzer Automation AG www.kratzer-automation.com